О растущей нижней оценке функции Шеннона длины единичного проверяющего теста при константных неисправностях на выходах элементов в формулах над базисами, близкими к стандартному

Цуй Ч., Романов Д. С.
Цуй Чжэнюй
асп. факультета ВМК МГУ имени М.В. Ломоносова
Романов Дмитрий Сергеевич
проф. факультета ВМК МГУ имени М.В. Ломоносова

Получена: 25.03.2026

Опубликована: 2025 год, том 29, выпуск 2, С. 162–172

Скачать полный текст

Аннотация

В статье установлены асимптотически равные числу переменных нижние оценки функций Шеннона длины единичного проверяющего теста при константных неисправностях на выходах элементов в булевых формулах над базисами \( \{x\mathbin{\&}y,\,x\vee y,\,\bar x\}\), \(\{x\mathbin{\&}y,\,\bar x\}\), \(\{x\vee y,\,\bar x\}\), \(\{x\mathbin{\&}{\bar y},\,\bar x\}\), \(\{x\vee {\bar y},\,\bar x\}\).

Ключевые слова: проверяющий тест, константные неисправности, булева формула

BibTeX 
@article{IS-Cui-Romanov2025,
  author  = {Цуй, Чжэнюй and Романов, Дмитрий Сергеевич},
  title   = {{О растущей нижней оценке функции
      Шеннона длины единичного
  проверяющего теста при константных
 неисправностях на выходах элементов в
  формулах над базисами, близкими к
             стандартному}},
  journal = {Интеллектуальные системы. Теория и приложения},
  year    = {2025},
  volume  = {29},
  number  = {2},
  pages   = {162--172},
}
AMSBIB 
\RBibitem{IS-Cui-Romanov2025}
\by Ч.~Цуй, Д.\,С.~Романов
\paper О растущей нижней оценке функции
      Шеннона длины единичного
  проверяющего теста при константных
 неисправностях на выходах элементов в
  формулах над базисами, близкими к
             стандартному
\jour Интеллектуальные системы. Теория и приложения
\yr 2025
\vol 29
\issue 2
\pages 162--172
Опубликовано на условиях лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0)

← К номеру журнала

× Issue cover